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人們對光的本性的認識是逐步發(fā)展的。直到1187年麥克斯韋提出電磁場學(xué)說以后，在1888年這個學(xué)說又為實驗所證明，人們才認識到光實際上是一種電磁波。從本質(zhì)上說，光和一般無線電波并無區(qū)別。光波向周圍空間傳播和水面因擾動產(chǎn)生的波浪向周圍傳播相似，都是橫波，其振動方向和光的傳播方向垂直。 光波區(qū)別于無線電波在于波長的不同。圖1.1示意了從y射線到無線電波的電磁波譜，圖中的波長與頻率均采用對數(shù)標(biāo)尺。波長在400～760nm范圍內(nèi)的電磁波能為人眼所感覺，稱為可見光，招出這個范圍的電磁波，人眼就感受不到了。 　在可見光譜段范圍以內(nèi)，不同的波長引起不同的顏色感覺。具有單一波長的光稱為“單色光”。幾種單色光混合而成為“復(fù)色光”。太陽光由無限多種單色光混合而成。人眼可直接感知的0.4～0.76微米波段稱為可見光波段，在可見光波段可被人眼感知為紅、橙、黃、綠、青、藍、紫七種顏色的光。比可見光的波長短的波段稱為紫外光，但是比X射線的波長要長，紫外光波段范圍約為1—400nm。真空紫外輻射的波段范圍約是100—300nm，因為這個波段范圍的光需要在真空設(shè)備中工作。而把比可見光的波長更長的從0.76～1000微米的電磁波稱為紅外波段，紅外波段的短波段與可見光紅光相鄰，長波段與微波相接。波長由0.76～3um波段成為近紅外或短波紅外。波長為3—6 um的波段稱為紅外或中波紅外。波長為6～15um的波段稱為遠紅外或長波紅外，或熱紅外。

紅外輻射計量專業(yè) 

紅外輻射計量主要從事軍用紅外輻射計量測試技術(shù)及其標(biāo)準(zhǔn)裝置的研究。已經(jīng)建立了50℃～1000℃黑體輻射特性標(biāo)準(zhǔn)裝置、1000℃～2000℃黑體輻射特性標(biāo)準(zhǔn)裝置、-60℃～80℃黑體輻射特性標(biāo)準(zhǔn)裝置、紅外目標(biāo)模擬器校準(zhǔn)裝置等國防計量最高標(biāo)準(zhǔn)，開展了紅外熱成像、紅外焦平面陣列器件參數(shù)等測試技術(shù)的研究，建立了紅外熱像儀綜合參數(shù)測量裝置，為各種軍用及民用熱像儀提供MRTD、MDTD、MTF、SiTF、時間域NETD、空間域NETD以及三維噪聲等參數(shù)的計量測試服務(wù)。編寫了中溫黑體檢定規(guī)程，目標(biāo)模擬器校準(zhǔn)規(guī)范，紅外熱像儀參數(shù)校準(zhǔn)規(guī)范等國軍標(biāo)。 目前研究方向：正在進行常溫、中溫面源黑體輻射特性校準(zhǔn)裝置、紅外輻射計校準(zhǔn)裝置、-170℃～170℃黑體輻射特性校準(zhǔn)裝置的研制。并廣泛開展紅外隱身、紅外對抗、紅外仿真、輻射測溫等技術(shù)的研究。具有中溫點源黑體、各種口徑面源黑體、紅外熱成像測試裝置及紅外輻射計等紅外計量測試儀器的研發(fā)能力。

光學(xué)材料參數(shù)計量專業(yè)

主要從事光學(xué)玻璃、光學(xué)晶體、光學(xué)薄膜、光學(xué)塑料和光纖特性參數(shù)的檢定、校準(zhǔn)和測試研究工作；已建立了可見和紅外光學(xué)材料折射率、應(yīng)力雙折射、激光晶體消光比、光纖幾何參數(shù)、光學(xué)薄膜厚度與折射率、紅外光學(xué)材料折射率溫度系數(shù)及自聚焦透鏡參數(shù)等計量測試裝置，在國防科技工業(yè)系統(tǒng)內(nèi)廣泛開展光學(xué)材料參數(shù)計量測試工作。 目前研究方向：正在開展紫外材料折射率計量測試裝置的研建。具有各種光學(xué)材料折射率、應(yīng)力測試儀、數(shù)字刀口檢測儀等的研發(fā)能力。

光度、光譜光度、色度計量專業(yè)

本專業(yè)是專門從事研究光學(xué)材料透射和反射特性、光源的光度特性及其光譜特性、物體色和光源色特性及相關(guān)標(biāo)準(zhǔn)的專業(yè)。可進行的計量測試參數(shù)有：光學(xué)材料透射比、光譜漫反射比、發(fā)光強度、光通量、亮度、照度（弱光照度）、色度、光源相對光譜功率分布、色溫、光譜輻射亮度、光譜輻射照度等。目前，已建立的國防最高計量標(biāo)準(zhǔn)共有七項，其中包括光譜透射比標(biāo)準(zhǔn)、光譜漫反射比標(biāo)準(zhǔn)、弱光度標(biāo)準(zhǔn)、光亮度標(biāo)準(zhǔn)、發(fā)光強度標(biāo)準(zhǔn)、光照度標(biāo)準(zhǔn)、總光通量標(biāo)準(zhǔn)。 目前研究方向：激光光學(xué)元件高反射比、高透射比計量、紅外光譜透射計量、瞬態(tài)輻射計量、紫外輻射計量、溯源于低溫輻射計的標(biāo)準(zhǔn)探測器參數(shù)計量研究；正在研制的標(biāo)準(zhǔn)包括紫外光譜輻射亮度、紫外光譜響應(yīng)度，瞬態(tài)光源的測試（包括閃光有效光強、光譜及光源色度等計量測試）。具有標(biāo)準(zhǔn)照度計、標(biāo)準(zhǔn)亮度計、閃光有效光強測試儀、瞬態(tài)光譜測試儀、LED綜合測試系統(tǒng)及各類標(biāo)準(zhǔn)探測器、標(biāo)準(zhǔn)光源、輻射計等計量測試儀器的研發(fā)能力。